一、XRF测试条件

1、厚度

a.试料厚度zui少3mm以上才行；

b.不足时用同样的Sample层叠后测试。

2、长度

=>采取Sample时，试料长度zui少3mm以上才行。

3、试料面

=>试料尽可能平面部位里采取。

4、符合材质

=>单一材质(homogeneousmaterial)状态下分离或,从供给社接到供给实施XRF评价。

5、粉碎/液晶试料

=>单一材质状态试料非常小或PowderType或液状试料情况下,用别度试料容器MylarFilm堵住一边,容器内将试料填满后X线不能通过实施分析

=>引用电溶液有机容器有扩散的可能性XRF分析不可能

二、判定基准

1、对不适合品对一个的Sample其他部位zui少3回以上测定后标记平均值

2、单一材质状态是PVC材质的情况下XRF分析结果以当社管理基准-10%,+30%为止通过精密分析判定合/不,其以上的情况下无需精密分析进行不合格处理.

3、对非常小的Chip部品或分离不可能的部品以部品状态实施XRF评价脱离Spec情况下从供给业体开始单一材质别度接收供给后再实施XRF评价。

4、可图章的颜色不合格时从部品业体开始以固化的材料接收后实施XRF再评价。

三、发生可能性问题

1、ROHS6代成分中一部分不能立即判定:A.Br时T-Br管理B.Cr时不好区分Cr和Cr6+

2、试料是否精密:分析试料特别小或不好分析时也有。

3、分析时其他成分妨害